De TBEN-S ultracompacte I/O modules van Turck creëren met LabVIEW drivers nieuwe mogelijkheden voor efficiënte automatisering van testopstellingen
LabVIEW Drivers voor IP67 Block I/O Modules
24/19 – Nieuwe drivers maken van Turck's compacte block I/O's het robuuste alternatief voor testbankautomatisering met IP67 modules - zonder dat een PLC direct in het veld nodig is
Mülheim, 13 november 2019De website van National Instruments biedt nu downloadbare LabVIEW drivers voor de compacte TBEN-S I/O modules van Turck. Met de nieuwe drivers kunnen gebruikers de kosten voor de automatisering van testopstellingen in productie aanzienlijk verlagen. De robuuste TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI en TBEN-S1-8DXP I/O block modules kunnen de dure I/O systemen vervangen die vaak worden gebruikt voor testautomatisering. Een afzonderlijke PLC voor het besturen van de modules is niet langer nodig. Dankzij hun hoge IP67 bescherming kunnen de modules rechtstreeks in het veld worden geïnstalleerd zonder dat een schakelkast nodig is.
De LabVIEW drivers zijn ontwikkeld in nauwe samenwerking met Turck als onderdeel van een klantenproject door specialisten van Kirschenhofer Maschinen GmbH. Het portfolio van het bedrijf varieert van machine- en fabrieksbouw tot softwareontwikkeling, systeemintegratie en testbankautomatisering.
Meer informatie
Select Country
Turck worldwide